Endags konference om CT-scanning og dens anvendelse i industrien arrangeret af Måling og Kvalitet på Teknologisk Institut
Konferencen "Anvendelsen af CT-scanning i Industrien" blev afholdt af Måling og Kvalitet på
Teknologisk Institut den 31. maj 2011. Omkring 70 deltagere fra Danmark og udlandet brugte dagen på at lytte til videnskabelige og tekniske foredrag holdt af nationale og internationale foredragsholdere, til
"networking" og til at besøge Måling og Kvalitets 3D måle-laboratorium og kalibreringsfaciliteter.
Professor Robert Schmitt fra RWTH Aachen Universitet holdt en "keynote" omhandlende "Hvordan man kan forbedre produktion ved hjælp af røntgen computertomografi - muligheder og udfordringer",
hvorefter der blev holdt foredrag af inviterede foredragsholdere fra både industri og universiteter.
Dr. Markus Bartscher fra PTB i Tyskland holdt et foredrag om sporbarhed indenfor CT-scanning, Dr.
Simone Carmignato fra Padova Universitet i Italien talte om en international "Round Robin" indenfor CT-scanning og Dr. José A.Y. Fabra fra Zaragoza Universitet gav et foredrag om måling af støbte micro-komponenter med CT-scanning. Derudover holdt professor Rasmus Larsen fra Institut for Informatik og Matematisk Modellering på DTU et foredrag om billedanalyse, og Lars Bagger fra DMRI fortalte om hvordan CT-scanning kan bruges indenfor produktionen hos danske svine slagterier.
Dr. Jochen Hiller fra Institut for Mekanisk Teknologi på DTU gav et foredrag om, hvordan man kan planlægge sine CT-scanninger for at få det bedste resultat og to Ph.d. studerende (Pavel Müller og Jais Angel), også fra Institut for Mekanisk Teknologi på DTU, holdt hver sit foredrag relateret til CT-scanning og metrologi.
Der var også repræsentanter fra Werth Messtechnik, SkyScan, Volume Graphics og Deformalyze som gav præsentationer omhandlende deres produkter og kompetencer indenfor CT-scanning.
Udover at høre foredrag og deltage i diskussioner omkring muligheder og udfordringer ved at bruge CT- scanning i industrien besøgte deltagerne ved konferencen laboratorierne i Måling og Kvalitet, hvor de havde mulighederne for at se centrets faciliteter indenfor CT-scanning, CMM (koordinat måle
maskiner), optiske målinger og kalibrering.
For mere information om konferencen, kontakt venligst Maria Holmberg – mahg@teknologisk.dk
